XPL-3230系列偏光顯微鏡主要用于鑒別具有雙折射特性的物質(zhì)，是藥理學(xué)、地質(zhì)學(xué)和機(jī)械、冶金等部門用來研究結(jié)晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。產(chǎn)品采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，配置無應(yīng)力長工作距離平場消色差物鏡與大視野目鏡，高精度偏光載物臺，優(yōu)良的偏振觀察附件等。可在透射偏光，透/反射偏光狀態(tài)下獲得高品質(zhì)的顯微圖像，儀器造型美觀，結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，操作舒適方便，是廠礦企業(yè)、科研院所進(jìn)行檢測、研究與教學(xué)的理想儀器。